粗糙度轮廓仪

轮廓测量的国际基准 MarSurf XC 20 被公认为轮廓评估的终极产品。开始于 30 年前的 Konturograph 产品 - 由驱动装置和 X-/Y-记录仪构成 #96 现已通过一流的技术发展为顶级质量的轮廓测量系统。微调的设备配置可提供卓越的性能标准。驱动装置和测量立柱通过可靠的测量和评估软件进行控制和定位。 可以显示用户提示 交互控制元素支持评估和自动例行程序 使用双探针测头测量上下轮廓；也可对两个轮廓进行相对评估 剖面图像，可评估各剖面的不同参数 可对孔或陡峭对象等障碍进行分段测量 支持导入和导出 dxf 文件以对比设定点/实际值 PCV 200 驱动装置采用专利的测杆安装方式，无需工具即可完成可重复性测杆更换 专利测头系统，提高测量站灵活性 手动可变扫描力，同样提高灵活性 使用直线和圆弧合成标称轮廓 方便比较标称和实际轮廓 可通过轮廓内的描述选择不同的公差