清洁度显微镜

清洁度显微镜

奥林巴斯CIX100技术清洁度显微镜 让您的技术清洁度检测更简便 组件与零部件的清洁对于生产工艺十分重要。清洁度对于开发、制造、批量生产以及成品质量控制的所有流程,满足对常见微观尺寸污染物和异物颗粒的计数、分析和分类的高标准要求是非常重要的。由于颗粒污染物对于零部件的使用寿命存在直接影响,国际和国家指令对于确定重要机械部件颗粒物污染的方法和存档要求均有表述。此前,使用残留颗粒物的质量来描述残留物特征。当前使用的标准对诸如颗粒物数量、颗粒物尺寸分布以及颗粒物特征等污染属性提出了更详细的信息要求。 奥林巴斯CIX100清洁度检测系统专为满足现代工业及国家和国际标准的清洁度要求而特别设计。
描述

简单可靠

硬件和软件无缝集成,打造出一款可以提供可靠、准确数据的耐用型高效率系统。

  • 易于设置的自动化交钥匙解决方案

  • 稳定的测量系统设置有利于提供可重复的结果

  • 先进的光学性能和可再现的成像条件

  • 自动化系统通过集成的校准装置进行自检

  • 全系统集成,实现所有硬件部件的自动化控制

  • 支持各种圆形和矩形样品托架

通过直观的指导大幅提高生产效率

  • 专用、简单的工作流程可大幅减少用户操作,并提供可靠的数据 - 与操作人员和经验水平无关

  • 借助用户友好型工具轻松修改检测数据

  • 分步指导可提高生产率,缩短检测时间

  • 用户权限管理可限制不同用户对功能的使用,以尽量减少人为错误

  • 触摸屏支持容易点击的大按钮

  • 符合要求的一键式报告,实现高效的文件记录

  • 所有数据均自动保存,并可轻松导出和共享

  • 可选配的材料分析解决方案提供独立的显微镜模式

  • CIX100的TruAI解决方案支持基于深度学习技术的图像分析

快速实时分析

创新型一体化扫描解决方案检测反光(金属)和非反光颗粒的速度是需要两幅独立图像的传统方法的两倍。即时反馈颗粒计数和颗粒分类的信息可帮助您快速做出决策。

  • 用于快速识别滤膜覆盖范围、颗粒聚集或危害性最大颗粒的概览图像

  • 对2.5微米至42毫米范围内的污染物颗粒进行自动实时处理和分类

  • 高检测量:系统在一次扫描中可同时探测到反光和非反光颗粒

  • 实时分析可使您对结果做出实时反应

  • 可根据选定的行业标准定制符合要求的结果

有效的数据评估

借助支持公司和国际清洁度检测标准的强大的、易于使用的工具修改检测数据。清晰呈现所有相关的检测结果,节省了时间。

  • 图像和数据的有序排列,使数据复核效率更高

  • 可选择各种视图,立即识别颗粒

  • 颗粒位置和缩略图链接到实时图像

  • 轻松地对检测数据进行重新分类、复核、修改和重新计算

  • 实时显示整体清洁度代码、颗粒和分类表

  • 趋势分析,以确定随时间推移而出现的潜在的测量偏差

  • 在一个视图中显示完整的检测数据


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