清洁度显微镜

内置LED照明

创新型照明机制，可同时探测到反光颗粒和非反光颗粒

光照强度可由软件控制

彩色CMOS USB 3.0相机

芯片上的像素尺寸为2.2 µm × 2.2 µm

标准样品为直径47毫米的滤膜；可提供滤膜直径为25毫米或55毫米的滤膜托架或定制样品托架

6孔电动物镜转盘，已预先安装了3个UIS2物镜

PLAPON 1.25X，用于预览

MPLFLN 5X，用于探测大于10 µm的颗粒

MPLFLN 10X，用于探测大于2.5 µm的颗粒

图像放大倍率和像素与尺寸之间的关系随时可知

在测量过程中的所选步骤中使用选定的物镜，且物镜可自动定位

步进电机控制运动

最大范围：130 × 79 mm

最大移动速度：240 mm/s（4 mm滚珠螺距）

可重复性：< 1 µm

分辨率：0.01 µm

可通过3轴操纵杆控制

扫描速度取决于所使用的物镜倍率，使用10x物镜时，扫描时间不到10分钟

载物台对齐校准由工厂在装配时完成。

滤膜托架经过专门设计，可避免在安装过程中滤膜发生意外转动

滤膜托架通过机械方式将滤膜压平

无需工具即可固定盖子

用于直径为25毫米、47毫米和55毫米的滤膜的样品托架

用于颗粒捕集器、颗粒捕集器耗材和胶带提取法采样的样品托架

用于验证系统测量准确性的参考样品

核查系统内置功能的样品，用于对CIX系统的正常功能进行控制

颗粒物标准片（PSD）只能使用载物台上的第2个插槽

载物台插槽专用于正确定位样品托架和PSD

HP Z4G4，Windows 10，64位Professional（专业版）（英文版）

16 GB RAM，256 GB SSD和4 TB数据存储

2 GB视频适配器

已安装Microsoft Office 2019（英文版）

网络功能、标准英文键盘、1000 dpi的光电鼠标

电动控制器、RS232串行和USB 3.0

操作系统和Microsoft Office的默认语言可由用户更改

分辨率：11920 × 1080，为配合CIX软件使用而优化

AC适配器（2个），用于控制器和显微镜架（需要4个插头）

输入：100-240 V AC，50/60Hz，10 A

控制器：700 W；显示器：56 W；显微镜：5.8 W；控制箱：7.4 W

总计：769.2 W

最大80%（温度不高于31 °C时）
（无冷凝）

当温度上升到31 °C以上时，适用的湿度会呈线性下降

70%（34 °C）至60%（37 °C），再至50%（40 °C）

图形用户界面：英语、法语、德语、西班牙语、日语、简体中文和韩语

在线帮助：英语、法语、德语、西班牙语、日语、简体中文和韩语

软件许可证通过许可证卡片激活（安装时已激活）

系统可以连接到网络进行域管理

可用功能范围根据经过身份验证的用户而选择。

金属颗粒显示为蓝色，非金属颗粒显示为自然色

图像总是以全视图形式显示

颗粒一经捕获就会被探测出来，提高了检测速度

如果测量结果不理想，用户可以中止检测过程

探测到颗粒后，立即对颗粒进行分类

在实时采集过程中，可在用户界面上识别颗粒所属的大小等级

可以进入显微镜模式进行显微成像

提供可选配的材料分析解决方案（不是标配）

不仅可在实时观察模式下（从实时图像）或样品查看模式下（从记录的数据）捕获图像，也可以在复核模式下，捕获样品上任何位置的单个图像

可使用1000 × 1000像素的标准分辨率，将图像存储为.tif、.jpg或.png文件

快照可以与探测到的颗粒相关联，并在之后的分析报告中使用

颗粒快照可以在景深扩展成像（EFI）模式下自动获取

在EFI模式下获取的图像可用在分析报告中

可以在获得的快照上对任意距离进行测量

可为任意测量项目重新命名，并可以进行重新着色

任意测量值和刻度线在存储时都会被保存在图像中

操纵杆操作和由软件控制

检测圆形和矩形的样品区域

在所选颗粒上以自动或手动方式重新定位

仅可通过软件选择

通过操纵杆控制

提供软件自动聚焦功能

使用多点聚焦图进行预测性自动对焦

通过测量颗粒物标准片的参数对系统进行验证

生成OK（合格）或NOK（不合格）的质量判定结果

对系统的检查只能使用工作物镜完成（至少应选择一个物镜）

可以使用5X或10X物镜，或使用这两种物镜对系统进行检查

ASTM E1216-11:2016、ISO 4406:2021、ISO 4407:1999、ISO 4407:2002 [累积和差分]、ISO 11218:2017、ISO 12345:2013、ISO 14952:2003、ISO 16232-10:2007（A、N和V）、ISO 16232:2018（A、N和V）、ISO 21018:2008、DIN 51455:2020 [70%和85%]、NAS 1638:1964、NF E 48-651:1986、NF E 48-655:1989、SAE AS4059:2020、VDA 19.1:2015（A、N和V）、VDA 19.2:2015、VDI 2083-21

阈值自动设置为VDA建议使用的值

颗粒可按颗粒种类分类（纤维、反光、反光纤维或其他）

有可能根据人工智能（AI）对探测到的颗粒进行分类

用户可以非常容易地自行定义标准

根据DT 55-83，颗粒测量参数包括丝状粒径和致密粒径

该系统可使用户加载、定义、复制、重命名、删除和保存检测配置

还可以存储和调用标准和报告模板

可以反转探测阈值，以探测到暗背景上的亮颗粒

可以在一个序列中采集多个样品

可以为单个颗粒类型设置批准限值

可以为不同颗粒类型扩展污染等级代码（CCC）

每个样品都可以使用特定的配置进行检测

双击平铺视图可以检索每个颗粒的位置

每个平铺视窗都与实际颗粒大小相适应

离线分析可使用户选择不同的标准来显示结果

检测数据可被导出到Excel（.xlsx）表格中

软件中所有可用的表格也可以导出到Excel中

可以按大小等级显示数据

可以按时间、样品和测量ID将数据绘制成图

可以选择比例（对数-正态，对数-对数）

数据点可被提取并导出到电子数据表格中

可以使用Q-DAS（.dfq）格式导出表格；软件中的所有表格也可以导出到Excel中

使用直线或折线添加、删除、合并或拆分颗粒

更改颗粒类型

模板可自行定制

用户在选择不同的颗粒种类时，可以选择将图片放在表格后面，或者将所有图片放在一起